財団法人塩事業センター

　皆様に財団法人塩事業センター海水総合研究所が開発した研究成果をご利用していただくことを目的に、当センターが保有する特許等の知的財産権を広く公開するものです。ご興味のある技術がありましたら、ご相談下さい。

No.	特許の名称	公開番号／登録番号
1	食塩成型品の製造方法	H2-49558/1806528	要約
2	湿式分級装置	H4-11959/1853474	要約
3	食塩の固結防止方法	H6-24738/2517853	要約
4	硫酸イオン濃度検出センサ−及び硫酸イオン濃度検出方法	H6-186161/2560230	要約
5	中赤外領域の波長による硫酸イオン濃度検出センサーおよび硫酸イオン濃度検出方法	H6-186162/2560231	要約
6	溶液組成測定システム	H7-128283/2702392	要約
7	溶液組成測定システム	H7-128284/2702393	要約
8	製塩用晶析装置における缶内結晶懸濁密度測定方法および装置	H7-140057/2757953	要約
9	製塩における粒径分布測定のための試料の調製方法および調整装置	H7-140053/2600059	要約
10	湿式分級装置	H7-178347/2081685	要約
11	製塩における粒径分布測定用試料の調製方法	H8-122242/2757954	要約
12	製塩工程における成分濃度測定方法	H8- 240526/2756422	要約
13	製塩工程における溶液サンプリング装置	H8-338827/2702449	要約
14	塩のカリウムイオン含有量分析方法及び分析装置	H10-206366/2950534	要約
15	塩の硫酸イオン含有量分析方法及び分析装置	H10-206321/3085915	要約
16	凍結防止剤	H11-61095/2987570	要約
17	塩中のマグネシウムイオン含有量分析方法	2001-27602/3220114	要約
18	成分濃度自動測定システム	2001-343394/3297420	要約
19	成分濃度測定方法及び検量線校正方法	2001-343325/3406279	要約
20	製品結晶粒径制御装置	H7-138017/3431965	要約
21	製塩工程における微結晶の除去方法及び装置	2002-114513/3485537	要約
22	赤外線を用いた水分、粒径およびマグネシウム濃度の同時測定方法および測定の補正方法	2002-116142/3466556	要約
23	インライン粉粒体水分測定システム	2002-243638/3527476	要約
24	低温固結を防止するための塩化ナトリウム含有物質の処理方法	H8-198620/3628740	要約
25	インライン粉粒体粒径測定システム	2002-243621/3572023	要約
26	ろ過装置、それを用いた海水前処理方法および凝集剤の再生方法	2003-220306/4001490	要約